本品為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率☁▩·，Z小可以測試到1uΩ方阻值☁▩·，是目前同行業中能測量到的Z小值☁▩·，採用高精度AD晶片控制☁▩·，恆流輸出☁▩·，結構合理↟₪☁₪、質量輕便☁▩·，運輸安全↟₪☁₪、使用方便；適用於生產企業↟₪☁₪、高等院校↟₪☁₪、科研部門☁▩·，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具▩•│₪☁。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料▩•│₪☁。液晶顯示☁▩·，無需人工計算☁▩·，並帶有溫度補償功能☁▩·，電阻率單位自動選擇☁▩·，儀器自動測量並根據測試結果
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